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> 全国第二届EDA大赛的试题
全国第二届EDA大赛的试题
更新:
2024-05-28 23:18:02
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类别:
专业指导 - 课程资源
格式:
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资源介绍
第二届全国EDA大赛试题 第二届笔试题 1.(4分)请简要说明CIF,EDIF,GDSⅡ的意义及用途。 2.(4分)在亚微米设计中,互连线的影响是十分重要的,互连线会给晶体管增加负载,是由于______、_____、_____、_____造成。从而导致信号_____、功率_____、电压_____、时间_____。 3.(4分)在亚微米设计中,电子迁移是由_____造成的。它使连线变细,最终断开,引起器件失效。
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