2006年对纳米金刚石的STM观测及其导电机理的研究

用IPC-205B型扫描隧道显微镜（STM）获得了纳米金刚石的三维表面形貌图和扫描隧道谱（STS），把绝缘体金刚石纳米化处理后，在一定的偏压下，获得了纳米金刚石的STM三维形貌图，观测了纳米金刚石表面形貌微观结构，测得了纳米金刚石的扫描隧道谱，估算出纳米金刚石的能隙宽度，并对纳米金刚石隧道谱和导电机理进行了分析。STM/STS实验不仅较好地解释了纳米金刚石导电性能的谱学机理，拓展了STM的应用领域，而且还可以作为绝缘材料纳米化处理后纳米晶粒结构及其能谱特征分析的重要研究手段。