快速SoC测试方法的一种可切换式TAM结构 (2009年)

由于现有TAM（Test Acces s Mechanism）结构中，被测IP（Intellectual Proper ty）核都是固定地连接在某些TAM总线上，经常会导致测试资源浪费，故提出了可切换式TAM结构。某些IP核通过切换电路挂接在多组TAM上，可以使用多组TAM来完成对一个IP核的测试，减少了空闲时间，缩短了测试用时。按特定的排序规则，采用0-1规划先给每个IP核分配一组TAM，再采用一种启发性搜索算法，挑选合适的IP核使用多组TAM测试。对ITC2002基准电路的实验结果表明，该方法的测试用