集成电路的系统级芯片（SoC）测试方法

1 SOC测试方法 1.1 放电动态测试 测试设备：BMS，充满电的电池包，充放电设备 测试步骤： 1. 以1c电流放电10分钟，算出安时量 （进步测试需要改变电流，比如0.3c放电3分钟，再以0.5放电3分钟，再以1c放电3分钟算出 ） 2. 查看程序的得到程序算出的 3. 比较 和 得出精度 1. 以1c电流充电10分钟，算出安时量 （进步测试需要改变电流，比如0.3c充电3分钟，再以0.5充电3分钟，再以1c充电3分钟算出 ） 2. 查看程序的得到程序算出的 3. 比较 和 得出精度 soc测试方法